Umseting - Enskt-Turkiskt - Ã¶zet

Núverðandi støða ‎Umseting

Hesin teksturin er tøkur í fylgjandi málum:

Bólkur Ritroynd - Útbúgving

Heiti

Ã¶zet

Tekstur
Framborið av

kazandibi00

Uppruna mál: Enskt

The atomic force microscope (AFM) is ideally suited for characterizing nanoparticles. It offers the capability of 3D
visualization and both qualitative and quantitative information on many physical properties including size, morphology,
surface texture and roughness. Statistical information, including size, surface area, and volume distributions,
can be determined as well. A wide range of particle sizes can be characterized in the same scan, from 1 nanometer
to 8 micrometers.

Heiti	Atomik Kuvvet Mikroskopu
Umseting Turkiskt Umsett av Freakazoid	Ynskt mál: Turkiskt Atomik kuvvet mikroskopu (AFM) nanopartikÃ¼lleri tanÄ±mlamak iÃ§in Ã§ok uygundur. AFM bir Ã§ok fiziksel malzeme ile ilgili olarak hem 3 boyutlu gÃ¶rÃ¼ntÃ¼ yeteneÄŸi hem de bÃ¼yÃ¼klÃ¼k, morfoloji, yÃ¼zey dokusu ve pÃ¼rÃ¼zlÃ¼lÃ¼k gibi niteliksel ve niceliksel bilgi sunar. BÃ¼yÃ¼klÃ¼k, yÃ¼zey alanÄ± ve hacim daÄŸÄ±lÄ±mlarÄ± gibi istatistiksel bilgiler de saptanabilir. AynÄ± taramada 1 nanometreden 8 mikrometreye kadar deÄŸiÅŸen geniÅŸ bir partikÃ¼l boyutu aralÄ±ÄŸÄ± tanÄ±mlanabilir.
Viðmerking um umsetingina	ideal olarak uygundur yerine idealdir denilebilir. physical properties i bu mikroskop daha Ã§ok malzeme bilimi alanÄ±nda kullanÄ±ldÄ±ÄŸÄ± iÃ§in o ÅŸekilde Ã§evirdim.

Góðkent av smy - 3 Februar 2008 11:41